電子元器件的環(huán)境可靠性測(cè)試的常見測(cè)試對(duì)象就是構(gòu)成電子元器件的零部件，接下來我們具體了解零部件可執(zhí)行的環(huán)境可靠性測(cè)試項(xiàng)目有哪些，以及用戶該如何根據(jù)自己的需求正確選擇環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。

零部件環(huán)境可靠性檢測(cè)項(xiàng)目包括以下幾項(xiàng)：

1. 溫度循環(huán)試驗(yàn)：主要是確定光電子器件承受極高溫度和極低溫度的能力，以及極高溫度和極低溫度交替變化對(duì)光電子器件的影響。除了作為環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)需要對(duì)光電子器件進(jìn)行溫度循環(huán)外，溫度循環(huán)還可以對(duì)管電子器件進(jìn)行加速老化。溫度循環(huán)的加速老化目的一般不是為了引起特定的性能參數(shù)的退化，而是為了提供封裝在組件里的光路長期機(jī)械穩(wěn)定性的附加說明。

2. 恒定濕熱試驗(yàn)：用于測(cè)試密封和非密封光電子器件能否同時(shí)承受規(guī)定的溫度和濕度。

3. 高溫壽命試驗(yàn)：用于測(cè)試光電子器件高溫加速老化失效機(jī)理和工作壽命。在實(shí)驗(yàn)過程中，應(yīng)定期監(jiān)測(cè)選定的參數(shù)，直到退化超過壽命終止為止。

4. 高低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)：評(píng)估光電子器件能否經(jīng)受高溫和低溫下運(yùn)輸和儲(chǔ)存。

5. 冷熱沖擊試驗(yàn)：評(píng)估光電子器件在遭受到溫度劇變時(shí)的抵抗能力和產(chǎn)生的作用。

6. 恒溫試驗(yàn)：與高溫運(yùn)行試驗(yàn)類似，但不同的是應(yīng)明確規(guī)定恒溫試驗(yàn)樣品數(shù)量和允許失效數(shù)。

7. 快速溫變?cè)囼?yàn)：變化溫度的高溫加速老化試驗(yàn)是定期按順序逐步升高溫度（例如，60℃、85℃和100℃）

上述零部件的環(huán)境可靠性測(cè)試大部分都可用高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)箱進(jìn)行，但冷熱沖擊試驗(yàn)以及快速溫變?cè)囼?yàn)則分別需用溫度沖擊試驗(yàn)箱和快速溫變?cè)囼?yàn)箱才可完成，因此用戶可根據(jù)上述的試驗(yàn)項(xiàng)目的種類選擇合適的試驗(yàn)箱。除了明確測(cè)試類型后，用戶在選購時(shí)還需要考慮以下幾點(diǎn)因素：

1. 尺寸要求∶測(cè)試樣品的大小以及一次性測(cè)量的最大的數(shù)量是決定設(shè)備內(nèi)容積的大小，所以需要明確測(cè)量測(cè)試產(chǎn)品的尺寸和體積。

2. 溫度濕度要求：明確測(cè)試所需達(dá)到的溫濕度要求。

3. 場(chǎng)地大?。涸O(shè)備運(yùn)輸至用戶場(chǎng)地從電梯到走廊大門的長寬高都會(huì)影響設(shè)備的大小以及考慮是否有可拆裝設(shè)計(jì)的必要。

4. 電源∶一般來說小于150L的試驗(yàn)箱一般采用 220V 單相電源；大于150L的試驗(yàn)箱采用 380V三相電源，這樣的配置對(duì)整個(gè)實(shí)驗(yàn)室的用電比較合理穩(wěn)定，對(duì)設(shè)備本身的壽命也有好處;

5. 制冷方式∶1m以內(nèi)的小型恒溫恒濕試驗(yàn)箱一般采用風(fēng)冷，水冷通常應(yīng)用在大型溫恒濕試驗(yàn)箱或快速溫度變化試驗(yàn)箱上，冷熱沖擊試驗(yàn)箱由于冷凍配置較大，通常也采用水冷。

6. 壓縮機(jī)品牌：壓縮機(jī)的好壞決定了試驗(yàn)箱的制冷效果，購買時(shí)應(yīng)該注意下廠家使用的壓縮機(jī)品牌。

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